1. Camera di spettroscopia: Struttura Paschen-Runge, reticolo a cerchio di Rowland con diametro di 400 mm; sistema a vuoto intermittente che garantisce un tempo di funzionamento della pompa a vuoto inferiore al 5%.
2. Sistema ottico: Reticolo concavo prodotto da Zeiss (Germania), densità delle linee di incisione 2400 l/mm, dispersione lineare dello spettro del primo ordine di 1.04 nm/mm.
3. Sistema di misura e controllo: Utilizza la tecnologia di rilevazione a spettro completo con rilevatore CMOS lineare ad alte prestazioni prodotto da Hamamatsu (Giappone). È uno strumento universale per l'analisi completa di elementi in materiali ferrosi e non ferrosi, in grado di soddisfare test su matrici come: Fe, Cu, Al, Ti, Pb, ecc.
4. Sorgente di eccitazione: Tecnologia della sorgente a plasma a scintillazione completamente digitale + tecnologia di pre-energizzazione ad alta energia (HEPS).
5. Tempo di analisi: Varia a seconda del tipo di campione, generalmente inferiore a 40 secondi.
6. Intervallo di lunghezze d'onda misurabili: 140 – 680 nm, con risoluzione dei pixel di 10 pm.
1. Camera di spettroscopia: Struttura Paschen-Runge, reticolo a cerchio di Rowland con diametro di 400 mm; sistema a vuoto intermittente che garantisce un tempo di funzionamento della pompa a vuoto inferiore al 5%.
2. Sistema ottico: Reticolo concavo prodotto da Zeiss (Germania), densità delle linee di incisione 2400 l/mm, dispersione lineare dello spettro del primo ordine di 1.04 nm/mm.
3. Sistema di misura e controllo: Utilizza la tecnologia di rilevazione a spettro completo con rilevatore CMOS lineare ad alte prestazioni prodotto da Hamamatsu (Giappone). È uno strumento universale per l'analisi completa di elementi in materiali ferrosi e non ferrosi, in grado di soddisfare test su matrici come: Fe, Cu, Al, Ti, Pb, ecc.
4. Sorgente di eccitazione: Tecnologia della sorgente a plasma a scintillazione completamente digitale + tecnologia di pre-energizzazione ad alta energia (HEPS).
5. Tempo di analisi: Varia a seconda del tipo di campione, generalmente inferiore a 40 secondi.
6. Intervallo di lunghezze d'onda misurabili: 140 – 680 nm, con risoluzione dei pixel di 10 pm.